所屬分類： SCIE 期刊 工程技術(shù) 中科院 4區(qū) JCR Q4
模擬集成電路和信號(hào)處理
模擬集成電路和信號(hào)處理雜志簡(jiǎn)介
- 出版商：Springer US
- 出版語(yǔ)言：English
- TOP期刊：否
- 出版地區(qū)：NETHERLANDS
- 是否預(yù)警：否
- 是否OA：未開放
- 出版周期：Monthly
- 出版年份：1991
- 中文名稱：模擬集成電路和信號(hào)處理
- 是否OA：未開放
模擬集成電路和信號(hào)處理（國(guó)際簡(jiǎn)稱ANALOG INTEGR CIRC S，英文名稱Analog Integrated Circuits And Signal Processing）是一本未開放獲?。∣A）國(guó)際期刊，自1991年創(chuàng)刊以來(lái)，始終站在工程技術(shù)研究的前沿。該期刊致力于發(fā)表在工程技術(shù)領(lǐng)域各個(gè)方面達(dá)到最高科學(xué)標(biāo)準(zhǔn)和具有重要性的研究成果。全面反映該學(xué)科的發(fā)展趨勢(shì)，為工程技術(shù)事業(yè)的進(jìn)步提供了有力的支撐。期刊嚴(yán)格遵循職業(yè)道德標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)于任何形式的抄襲行為，無(wú)論是文字還是圖形，一旦查實(shí)，均可能導(dǎo)致稿件被拒絕。
在過(guò)去幾年中，該期刊保持了穩(wěn)定的發(fā)文量和綜述量，具體數(shù)據(jù)如下：
2014年：發(fā)表文章256篇、2015年：發(fā)表文章195篇、2016年：發(fā)表文章206篇、2017年：發(fā)表文章206篇、2018年：發(fā)表文章195篇、2019年：發(fā)表文章232篇、2020年：發(fā)表文章218篇、2021年：發(fā)表文章216篇、2022年：發(fā)表文章144篇、2023年：發(fā)表文章95篇。這些數(shù)據(jù)反映了期刊在全球工程技術(shù)領(lǐng)域的影響力和活躍度，同時(shí)也展示了其作為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界研究人員首選資源的地位。《Analog Integrated Circuits And Signal Processing》將繼續(xù)致力于推動(dòng)工程技術(shù)領(lǐng)域的知識(shí)傳播和科學(xué)進(jìn)步，為全球工程技術(shù)問(wèn)題的解決貢獻(xiàn)力量。
期刊指數(shù)
- 影響因子：1.2
- 文章自引率：0.0714...
- Gold OA文章占比：5.05%
- CiteScore：3.5
- 年發(fā)文量：95
- 開源占比：0.0311
- SJR指數(shù)：0.351
- H-index：45
- SNIP指數(shù)：0.664
- OA被引用占比：0.0132...
WOS期刊SCI分區(qū)（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q4 | 50 / 59 |
16.1% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 352 |
22.9% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q4 | 49 / 59 |
17.8% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
中科院分區(qū)表
中科院SCI期刊分區(qū) 2023年12月升級(jí)版
| Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 |
| 否 | 否 | 工程技術(shù) 4區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī)：硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程：電子與電氣
4區(qū)
4區(qū)
|
CiteScore（2024年最新版）
CiteScore 排名
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||||||
| 3.5 | 0.351 | 0.664 |
|
學(xué)術(shù)指標(biāo)分析
影響因子和CiteScore
自引率
影響因子：指某一期刊的文章在特定年份或時(shí)期被引用的頻率，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo)。影響因子越高，代表著期刊的影響力越大 。
CiteScore：該值越高，代表該期刊的論文受到更多其他學(xué)者的引用，因此該期刊的影響力也越高。
自引率：是衡量期刊質(zhì)量和影響力的重要指標(biāo)之一。通過(guò)計(jì)算期刊被自身引用的次數(shù)與總被引次數(shù)的比例，可以反映期刊對(duì)于自身研究?jī)?nèi)容的重視程度以及內(nèi)部引用的情況。
年發(fā)文量：是衡量期刊活躍度和研究產(chǎn)出能力的重要指標(biāo)，年發(fā)文量較多的期刊可能擁有更廣泛的讀者群體和更高的學(xué)術(shù)聲譽(yù)，從而吸引更多的優(yōu)質(zhì)稿件。
期刊互引關(guān)系
| 序號(hào) | 引用他刊情況 | 引用次數(shù) |
| 1 | IEEE J SOLID-ST CIRC | 538 |
| 2 | ANALOG INTEGR CIRC S | 265 |
| 3 | ELECTRON LETT | 212 |
| 4 | IEEE T CIRCUITS-I | 197 |
| 5 | IEEE T CIRCUITS-II | 164 |
| 6 | IEEE T MICROW THEORY | 138 |
| 7 | AEU-INT J ELECTRON C | 118 |
| 8 | MICROELECTRON J | 105 |
| 9 | IEEE MICROW WIREL CO | 104 |
| 10 | IEEE T VLSI SYST | 66 |
| 序號(hào) | 被他刊引用情況 | 引用次數(shù) |
| 1 | ANALOG INTEGR CIRC S | 265 |
| 2 | AEU-INT J ELECTRON C | 114 |
| 3 | J CIRCUIT SYST COMP | 91 |
| 4 | MICROELECTRON J | 74 |
| 5 | IEEE ACCESS | 60 |
| 6 | ELECTRONICS-SWITZ | 49 |
| 7 | IEEE T CIRCUITS-I | 48 |
| 8 | CIRC SYST SIGNAL PR | 38 |
| 9 | IET CIRC DEVICE SYST | 33 |
| 10 | INTEGRATION | 33 |
高引用文章
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- Analog circuit soft fault diagnosis utilizing matrix perturbation analysisAuthor：Tianwen Zhang, Tingjun Li
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- Rapid and accurate method for resizing CMOS operational amplifiersAuthor：Yushun Guo, Kang Li, Lihong Zhang
