IEEE納米技術匯刊(國際簡稱IEEE T NANOTECHNOL,英文名稱Ieee Transactions On Nanotechnology)是一本未開放獲取(OA)國際期刊,自2002年創刊以來,始終站在工程技術研究的前沿。該期刊致力于發表在工程技術領域各個方面達到最高科學標準和具有重要性的研究成果。全面反映該學科的發展趨勢,為工程技術事業的進步提供了有力的支撐。期刊嚴格遵循職業道德標準,對于任何形式的抄襲行為,無論是文字還是圖形,一旦查實,均可能導致稿件被拒絕。
近年來,來自CHINA MAINLAND、USA、India、Taiwan、South Korea、Iran、GERMANY (FED REP GER)、Italy、France、Spain等國家和地區的研究者在《Ieee Transactions On Nanotechnology》上發表了大量的高質量文章。該期刊內容豐富,包括原創研究、綜述文章、專題觀點、論文預覽、專家意見等多種類型,旨在為全球該領域研究者提供廣泛的學術交流平臺和靈感來源。
在過去幾年中,該期刊保持了穩定的發文量和綜述量,具體數據如下:
2014年:發表文章161篇、2015年:發表文章142篇、2016年:發表文章124篇、2017年:發表文章147篇、2018年:發表文章180篇、2019年:發表文章129篇、2020年:發表文章121篇、2021年:發表文章118篇、2022年:發表文章106篇、2023年:發表文章109篇。這些數據反映了期刊在全球工程技術領域的影響力和活躍度,同時也展示了其作為學術界和工業界研究人員首選資源的地位。《Ieee Transactions On Nanotechnology》將繼續致力于推動工程技術領域的知識傳播和科學進步,為全球工程技術問題的解決貢獻力量。
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 192 / 352 |
45.6% |
學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 286 / 438 |
34.8% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 105 / 140 |
25.4% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 109 / 179 |
39.4% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 200 / 354 |
43.64% |
學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 255 / 438 |
41.89% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 82 / 140 |
41.79% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 106 / 179 |
41.06% |
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區 |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY
材料科學:綜合
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區
4區
4區
4區
|
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||
4.8 | 0.435 | 0.783 |
|
影響因子:指某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。影響因子越高,代表著期刊的影響力越大 。
CiteScore:該值越高,代表該期刊的論文受到更多其他學者的引用,因此該期刊的影響力也越高。
自引率:是衡量期刊質量和影響力的重要指標之一。通過計算期刊被自身引用的次數與總被引次數的比例,可以反映期刊對于自身研究內容的重視程度以及內部引用的情況。
年發文量:是衡量期刊活躍度和研究產出能力的重要指標,年發文量較多的期刊可能擁有更廣泛的讀者群體和更高的學術聲譽,從而吸引更多的優質稿件。
序號 | 引用他刊情況 | 引用次數 |
1 | APPL PHYS LETT | 177 |
2 | IEEE T ELECTRON DEV | 134 |
3 | IEEE T NANOTECHNOL | 128 |
4 | NANO LETT | 107 |
5 | J APPL PHYS | 100 |
6 | ACS NANO | 91 |
7 | NATURE | 90 |
8 | SCIENCE | 77 |
9 | SENSOR ACTUAT B-CHEM | 74 |
10 | IEEE ELECTR DEVICE L | 70 |
序號 | 被他刊引用情況 | 引用次數 |
1 | IEEE T NANOTECHNOL | 128 |
2 | IEEE ACCESS | 89 |
3 | IEEE T ELECTRON DEV | 88 |
4 | MICROELECTRON J | 47 |
5 | IEEE SENS J | 44 |
6 | NANOTECHNOLOGY | 42 |
7 | MICROSYST TECHNOL | 38 |
8 | IEEE T VLSI SYST | 37 |
9 | J ELECTRON MATER | 37 |
10 | MATER RES EXPRESS | 36 |
本站合法持有《出版物经营许可证》,仅销售经国家新闻出版署批准的合法期刊,不是任何杂志官网,不涉及出版事务。本站仅提供有限咨询服务,需要用户自己向出版商投稿且没有绿色通道,是否录用一切以出版商通知为准。提及的第三方名称或商标,其知识产权均属于相应的出版商或期刊,本站与上述机构无从属关系,所有引用均出于解释服务内容的考量,符合商标法规范。本页信息均由法务团队进行把关,若期刊信息有任何问题,请联系在线客服,我们会认真核实处理。若用户需要出版服务,请联系出版商 若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。