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可靠性交易

英文名稱:Ieee Transactions On Reliability   國際簡稱:IEEE T RELIAB
《Ieee Transactions On Reliability》雜志由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版,本刊創(chuàng)刊于1963年,發(fā)行周期Quarterly,每期雜志都匯聚了全球計算機科學(xué)領(lǐng)域的最新研究成果,包括原創(chuàng)論文、綜述文章、研究快報等多種形式,內(nèi)容涵蓋了計算機科學(xué)的各個方面,為讀者提供了全面而深入的學(xué)術(shù)視野,為計算機科學(xué)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE事業(yè)的進(jìn)步提供了有力的支撐。
中科院分區(qū)
計算機科學(xué)
大類學(xué)科
0018-9529
ISSN
1558-1721
E-ISSN
預(yù)計審稿速度: 約4.5個月
雜志簡介 期刊指數(shù) WOS分區(qū) 中科院分區(qū) CiteScore 學(xué)術(shù)指標(biāo) 高引用文章

可靠性交易雜志簡介

出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版語言:English
TOP期刊:
出版地區(qū):UNITED STATES
是否預(yù)警:

是否OA:未開放

出版周期:Quarterly
出版年份:1963
中文名稱:可靠性交易

可靠性交易(國際簡稱IEEE T RELIAB,英文名稱Ieee Transactions On Reliability)是一本未開放獲?。∣A)國際期刊,自1963年創(chuàng)刊以來,始終站在計算機科學(xué)研究的前沿。該期刊致力于發(fā)表在計算機科學(xué)領(lǐng)域各個方面達(dá)到最高科學(xué)標(biāo)準(zhǔn)和具有重要性的研究成果。全面反映該學(xué)科的發(fā)展趨勢,為計算機科學(xué)事業(yè)的進(jìn)步提供了有力的支撐。期刊嚴(yán)格遵循職業(yè)道德標(biāo)準(zhǔn),對于任何形式的抄襲行為,無論是文字還是圖形,一旦查實,均可能導(dǎo)致稿件被拒絕。

近年來,來自CHINA MAINLAND、USA、England、Canada、France、Brazil、Italy、Singapore、Iran、Taiwan等國家和地區(qū)的研究者在《Ieee Transactions On Reliability》上發(fā)表了大量的高質(zhì)量文章。該期刊內(nèi)容豐富,包括原創(chuàng)研究、綜述文章、專題觀點、論文預(yù)覽、專家意見等多種類型,旨在為全球該領(lǐng)域研究者提供廣泛的學(xué)術(shù)交流平臺和靈感來源。

在過去幾年中,該期刊保持了穩(wěn)定的發(fā)文量和綜述量,具體數(shù)據(jù)如下:

2014年:發(fā)表文章73篇、2015年:發(fā)表文章113篇、2016年:發(fā)表文章149篇、2017年:發(fā)表文章100篇、2018年:發(fā)表文章103篇、2019年:發(fā)表文章100篇、2020年:發(fā)表文章96篇、2021年:發(fā)表文章177篇、2022年:發(fā)表文章145篇、2023年:發(fā)表文章132篇。這些數(shù)據(jù)反映了期刊在全球計算機科學(xué)領(lǐng)域的影響力和活躍度,同時也展示了其作為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界研究人員首選資源的地位?!禝eee Transactions On Reliability》將繼續(xù)致力于推動計算機科學(xué)領(lǐng)域的知識傳播和科學(xué)進(jìn)步,為全球計算機科學(xué)問題的解決貢獻(xiàn)力量。

期刊指數(shù)

  • 影響因子:5
  • 文章自引率:0.0847...
  • Gold OA文章占比:16.74%
  • CiteScore:12.2
  • 年發(fā)文量:132
  • 開源占比:0.0455
  • SJR指數(shù):1.511
  • H-index:86
  • SNIP指數(shù):1.989
  • 出版國人文章占比:0.38

WOS期刊SCI分區(qū)(2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 8 / 59

87.3%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 13 / 131

90.5%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 65 / 352

81.7%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 7 / 59

88.98%

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 14 / 131

89.69%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 354

88.28%

中科院分區(qū)表

中科院SCI期刊分區(qū) 2023年12月升級版
Top期刊 綜述期刊 大類學(xué)科 小類學(xué)科
計算機科學(xué) 2區(qū)
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 計算機:軟件工程 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣
2區(qū) 2區(qū) 2區(qū)

CiteScore(2024年最新版)

CiteScore 排名
CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
12.2 1.511 1.989
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

96%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

92%

學(xué)術(shù)指標(biāo)分析

影響因子和CiteScore
自引率

影響因子:指某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo)。影響因子越高,代表著期刊的影響力越大 。

CiteScore:該值越高,代表該期刊的論文受到更多其他學(xué)者的引用,因此該期刊的影響力也越高。

自引率:是衡量期刊質(zhì)量和影響力的重要指標(biāo)之一。通過計算期刊被自身引用的次數(shù)與總被引次數(shù)的比例,可以反映期刊對于自身研究內(nèi)容的重視程度以及內(nèi)部引用的情況。

年發(fā)文量:是衡量期刊活躍度和研究產(chǎn)出能力的重要指標(biāo),年發(fā)文量較多的期刊可能擁有更廣泛的讀者群體和更高的學(xué)術(shù)聲譽,從而吸引更多的優(yōu)質(zhì)稿件。

期刊互引關(guān)系
序號 引用他刊情況 引用次數(shù)
1 IEEE T RELIAB 320
2 RELIAB ENG SYST SAFE 181
3 IEEE T SOFTWARE ENG 73
4 EUR J OPER RES 58
5 IEEE T POWER SYST 47
6 TECHNOMETRICS 47
7 IEEE T COMPUT 36
8 MECH SYST SIGNAL PR 32
9 INFORM SOFTWARE TECH 29
10 J SYST SOFTWARE 29
序號 被他刊引用情況 引用次數(shù)
1 RELIAB ENG SYST SAFE 568
2 IEEE ACCESS 527
3 IEEE T RELIAB 320
4 QUAL RELIAB ENG INT 165
5 P I MECH ENG O-J RIS 155
6 APPL STOCH MODEL BUS 83
7 COMPUT IND ENG 76
8 COMMUN STAT-THEOR M 66
9 APPL MATH MODEL 64
10 MECH SYST SIGNAL PR 58

高引用文章

  • Failure Mode and Effect Analysis in a Linguistic Context: A Consensus-Based Multiattribute Group Decision-Making Approach引用次數(shù):23
  • Optimal Maintenance Design-Oriented Nonprobabilistic Reliability Methodology for Existing Structures Under Static and Dynamic Mixed Uncertainties引用次數(shù):19
  • Reliable Control of Discrete-Time Piecewise-Affine Time-Delay Systems via Output Feedback引用次數(shù):19
  • Failure Mode and Effects Analysis by Using the House of Reliability-Based Rough VIKOR Approach引用次數(shù):18
  • Multisensor Fault Diagnosis Modeling Based on the Evidence Theory引用次數(shù):17
  • Cross-Project and Within-Project Semisupervised Software Defect Prediction: A Unified Approach引用次數(shù):17
  • Reliability Modeling and Analysis of Load-Sharing Systems With Continuously Degrading Components引用次數(shù):16
  • Uncertainty Analysis of Transmission Line End-of-Life Failure Model for Bulk Electric System Reliability Studies引用次數(shù):16
  • Analyzing and Increasing the Reliability of Convolutional Neural Networks on GPUs引用次數(shù):16
  • A Hybrid Approach to Cutting Tool Remaining Useful Life Prediction Based on the Wiener Process引用次數(shù):14
若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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